Descubra los secretos del detector de paneles planos de rayos X, un pequeño dispositivo que ha revolucionado la calidad de imagen para aplicaciones industriales. Ya sea en campos industriales, médicos o dentales, los detectores de paneles planos con tecnología de silicio amorfo se han convertido en el estándar para CBCT y imágenes panorámicas.
La ventaja de la tecnología de silicio amorfo radica en su capacidad para convertir imágenes de rayos X en imágenes visibles para proporcionar salidas electrónicas para sistemas de rayos X. Esta tecnología es adecuada para fluoroscopia de rayos X e imágenes de rayos X, detección instantánea, ampliamente utilizada en productos electrónicos, componentes electrónicos, piezas de inyección y otras pruebas industriales no destructivas.
Descripción general de las especificaciones técnicas:
Categoría de detector: silicio amorfo
Scintillator: CSI Gos
Tamaño de la imagen: 160 × 130 mm
Matriz de píxeles: 1274 × 1024
Pitch Pixel: 125 μm
Conversión de A/D: 16 bits
Sensibilidad: 1.4LSB/NGY, RQA5
Dosis lineal: 40ugy, RQA5
Función de transferencia de modulación @ 0.5LP /mm: 0.60
Función de transferencia de modulación @ 1.0 LP/mm: 0.36
Función de transferencia de modulación @ 2.0 LP/mm: 0.16
Función de transferencia de modulación @ 3.0 LP/mm: 0.08
Imagen residual: 300ugy, 60S, %
Estos parámetros aseguran que el detector pueda proporcionar imágenes de alta calidad en una variedad de aplicaciones, ya sea inspección industrial o diagnóstico médico, para satisfacer las necesidades de los usuarios.
Tiempo de publicación: Mar-15-2025